Сиротенко А., Ковальчук В.
Метрологія формування наносистеми з використанням фрактального підходу
Автор: Сиротенко А., Ковальчук В. Вид автора: персона
Мова: Українська Обсяг: с.61-65
УДК: 389.62.1+530.145
Є складовою частиною документа: Метрологія та прилади
| | Назва документа, в якому знаходиться дана частина: | Метрологія та прилади |
| | Дата видання документа, в якому знаходиться дана частина: | 2012 |
| | Номер головного документа: | №2 |
Теми документа
|