Складові частини документа:

• Сизов Ф. Інфрачервона мікрофотоелектроніка: стан, тенденції, інформативність
• Балабан В., Тимофеєв Є. Вимірники параметрів імпульсного лазерного випромінювання
• Середюк О., Кузь М. Оцінка способу представлення похибки передавання одиниці об’єму газу еталонами дзвонового типу
• Оробчук Б., Сисак І.М., Бабюк С. Спосіб визначення відстані до місця локального пошкодження ізоляції та опору цього пошкодження у розподільних мережах
• Курська Т. Підвищення точності калібрування вимірювальних каналів температури
• Ільницький В. Заходи підвищення точності вимірювання витрати та об’єму газу для методу змінного перепаду тиску із застосуванням стандартних звужувальних пристроїв
• Кричевець О. Метрологічне забезпечення обчислювальних компонентів вимірювальних інформаційних систем
• Малышев Ю. Печь для реализации реперной точки затвердевания меди
• Мельничук М., Гусачук Д., Пашинський Л., Полівода Н. Похибки перетворювачів термоелектричних, зумовлені пластичною деформацією термоелектродів
• Коцюба А., Коцюба Л., Заїка В. Вплив лінійного тренду результатів повторних спостережень на статистичне оцінення стандартного відхилення випадкової похибки
• Щіпка В., Несвідоміна Л., Потоцький І. Окремі аспекти калібрування ЗВТ та оцінювання відповідності продукції
• Букало О., Колозінська І., Солодуха Т. Сучасний стан нормативної документації у сфері вимірювання маси
• Сиротенко А., Ковальчук В. Метрологія формування наносистеми з використанням фрактального підходу
• Козубовський В., Федак М. Вплив вологи на роботу електрохімічного сенсора напівпровідникового типу