Бургуэн Ж., Ланно М.
Точечные дефекты в полупроводниках
Рiк видання: 1985 Мiсце видання: М. Видавництво: Мир
Автор: Бургуэн Ж., Ланно М. Авторський знак: Б92 Вид автора: персона
Мова: Російська Обсяг: 304 с.
Шифр: 537.11 УДК: 537.11
| | Додаткові відомості щодо назви: | Эспериментальные аспекты |
| | Мова оригіналу: | Англійська |
| | Перекладач: | Пер. с англ. Гальперина Ю.М. |
Теми документа
| Примірники |
| Місце збереження |
Інвентарний номер |
Номер |
Кількість |
Видано |
| ЧЗ - Читальний зал |
158762 |
|
1 |
0 |
|